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Una mirada crítica sobre la Modernidad.
:
Entrevista con Bolívar Echeverría
Autores:
Ignacio Díaz de la Serna
,
José Luis Valdés Ugalde
,
Javier Sigüenza Reyes
Localización:
Norteamérica
,
ISSN-e
1870-3550,
Vol. 4, Nº. 1, 2009
,
págs.
207-222
Idioma:
español
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