Existen varios modelos que intentan describir el daño que causa un evento de descarga electrostática ESD- sobre un circuito integrado CI-. El ensayo llamado Línea de Transmisión de Impulsos TLP-, resulta en particular muy utilizado para este tipo de mediciones, por lo que necesita asimismo mantener una correlación con los distintos modelos referenciados en diversos estándares, que amplíen la validez de sus resultados, Se analiza en este trabajo la búsqueda de una correlación aproximada, mediante medición y simulación con PSpice para utilizar los resultados mediante TLP, prediciendo la respuesta del dispositivo bajo prueba DUT- ante diferentes formas de onda ESD como las indicadas en los estándares.
There are several models which try to describe the waveforms and damage produced by an electrostatic discharge event ESD- to an integrated circuit IC-. The Transmission Line Pulse TLP- test is widely used to run tests in this field, so it is needed to keep close correlation to the models used in different standards, in order to validate its results. This work analyzes the search of an approximate correlation, through tests, measurements and PSpice simulation, in order to predict, through the use of TLP information, the results of applying different standard ESD waveforms to a Device Under Test DUT-.
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