Este estudio reporta los resultados de algunos análisis psicométricos, aplicados a las respuestas que una muestra representativa de estudiantes mexicanos dio a dos escalas: La Escala de Responsabilidad Intelectual Académica (CRIA) y la Escala de Deseabilidad Social (SDS). Ambas escalas han sido ampliamente utilizadas en diferentes áreas de la investigación psicosocial como medidas de predicción y diagnóstico. Actualmente existen en México estudios de investigación que utilizan dichas escalas. El que un individuo atribuya su éxito o fracaso a factores externos (el ambiente) o internos (él mismo) se ve influido por aspectos socioculturales y por su grado de necesidad de aprobación social. Por ello se pensó que era importante realizar un análisis que permitiera responder a tres interrogantes básicas sobre las escalas: - ¿Se necesitan normas específicas para los subgrupos demográficos de la muestra nacional de estudiantes (sexo, edad y región del país en que viven)? - ¿Cuáles son las normas de calificación para la población total de estudiantes? - Y, finalmete, debido a que la literatura reporta que el tipo de control y el grado de deseabilidad social son variables que frecuentemente están asociadas, es importante saber si se agrupan los reactivos de ambas escalas. De ser así ¿cómo podría conceptualizarse dicha agrupación? Los objetivos de este estudio son habilitar el uso de ambos instrumentos para realizar investigaciones con jóvenes mexicanos, y habilitar el uso combinado de ambas escalas. Los resultados de los análisis indican que no existen diferencias significativas entre las respuestas que dan los subgrupos demográficos, por lo que los criterios normativos pueden ser aplicados por igual a todos los estudiantes. El análisis factorial indicó que existe un factor que explica el 85.1% de la varianza total, que contiene 29 reactivos (16 del CRIA y 12 del SDS), que puede ser conceptualizado como una medición conjunta de aspectos de deseabilidad social y tipo de control sobre éxitos y fracasos académicos.
© 2001-2024 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados