Nonrepeatable Gauge R&R Studies Assuming Temporal or Patterned Object Variation

• Autores: Frank Van Der Meulen, Henk de Koning, Jeroen De Mast
• Localización: Journal of quality technology: A quarterly journal of methods applications and related topics, ISSN 0022-4065, Vol. 41, Nº. 4, 2009, págs. 426-439
• Idioma: inglés
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  • Process control; Variance (statistics); Monitoring; Control charts; Likelihood methods; Shewhart control chart; X-bar control charts