Two-Level Designs to Estimate All Main Effects and Two-Factor Interactions.

• Autores: Pieter T. Eendebak, Eric D. Schoen
• Localización: Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 59, Nº. 1, 2017, págs. 69-79
• Idioma: inglés
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