Resumen de Generació de vectors de test per a circuits integrats
Aquest article introdueix el lector en el món del test dels circuits integrats. Es presenta, per la seva importància en el test, l'estructura bàsica i general dels mètodes de generació de vectors de test. Partint d'aquesta estructura, introduïm un nou mètode de generació de vectors desenvolupat en el Departament d'Electrònica i Microelectrònica
