Metaestabilidad en biestables integrables en ASICS: simulación y medida bajo el punto de vista de su influencia sobre el MTBF

• Autores: M Gutierrez, R. Burriel, Octavio Nieto-Taladriz
• Localización: VII Congreso de Diseño de Circuitos Integrados: 3, 4 y 5 de noviembre de 1992, Toledo, España : actas, 1992, págs. 175-181
• Idioma: español
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• Resumen

  • Uno de los principales problemas que se presentan en el diseño de circuitos integrados para comunicaciones es el de la metaestabilidad en los biestables que se refleja en un aumento de la tasa de error del sistema. Por ello, es importante predecir el comportamiento frente a la metaestabilidad de los cuatro tipos de biestables más utilizados en ASIC's. Para ello se ha establecido un modelo matemático en el que se define su relación con el tiempo medio entre fallos. A partir de éste se ha generado un procedimiento que permite la obtención del MTBF (tiempo medio entre fallos) de cualquier biestable a partir de simulaciones eléctricas además de la identificación del retardo entre datos y reloj que ha de tomarse para obtener un MTBF determinado.

    Con el fín de validar la metodología que se presenta, se han realizado cuatro biestables en un circuito integrado y se ha incorporado la circutería necesaria para obtener el MTBF realizando las medidas pertinentes.