Testing two techniques for wavefront analysis: Specific applications and comparative study

• S. Vallmitjana ^[1] ; A. Marzoa ^[1] ; S. Bosch ^[1] ; E. Acosta ^[2]
  1. [1] Universitat de Barcelona

     Universitat de Barcelona

     Barcelona, España

     
  2. [2] Universidade de Santiago de Compostela

     Universidade de Santiago de Compostela

     Santiago de Compostela, España

     
• Localización: Óptica pura y aplicada, ISSN-e 2171-8814, Vol. 50, Nº. 4, 2017, págs. 327-335
• Idioma: inglés
• Títulos paralelos:
  • Pruebas con dos técnicas para el análisis de frentes de onda: Aplicaciones concretas y estudio comparativo
• Enlaces
  • Texto completo (pdf)
• Resumen
  • español

    Este trabajo se centra en la descripción de dos técnicas diferentes para caracterizar un frente de onda: mediante sensor Shack-Hartmann (SH) e interferometría de difracción por orificio o point-diffraction interferometer (PDI). Además detalla un ejemplo de aplicación de cada una de ellas en investigaciones recientes, y finalmente se realiza un estudio comparativo de ambas técnicas sobre un mismo sistema óptico.

  • English

    This work focuses on the description of two different techniques for characterizing wavefronts: by using Shack-Hartmann (SH) sensor and by using Point Diffraction Interferometer (PDI). Moreover describes application examples of each in recent research, and finally a comparative study of both techniques on a single optical system is performed.