Ayuda
Ir al contenido

Dialnet


Resumen de Detección de stuck-open en circuitos con estructura BILBO

Pedro A. Mateos Borrego, Manuel Escudero, María José Aguado Gómez, Niceto Pérez Cagigal, Francisco J. Llacer, Miguel Ángel Allende Recio

  • Entre los numerosos métodos de Diseño para Testabilidad, las técnicas BILBO han alcanzado gran notoriedad por no ser necesario el cálculo de los vectores de test. Sin embargo, en tecnología CMOS una parte importante de los fallos producen estados de memoria, como es el caso de los stuck-open, que a un BILBO clásico, que llamaremos CBILBO, le es difícil o imposible detectar.


Fundación Dialnet

Dialnet Plus

  • Más información sobre Dialnet Plus