Salvador Bracho, Javier Argüelles
La verificación de circuitos integrados de aplicación específica funcionando en modo mixto está adquiriendo cada vez más interés dado el mayor número de aplicaciones que se encuentran para estos circuitos. Hasta el momento no existen teorías que sustenten un test global de estos circuitos, las formas más tradicionales proponen particiones en bloques lineales y discretos para efectuar su verificación independientemente. Existen alternativas recientes a estas formas tradicionales, tales como los test basados en lecturas sobre el consumo de intensidad del circuito. Estos test presentan un excelente rendimiento con ciertos defectos sobre los circuitos integrados CMOS, y están comenzando a considerarse como un complemento válido en la tarea de verificación de estos circuitos.
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