Resumen de Sistema de ayuda al test de circuitos digitales MOS basado en técnicas espectrales
Gustavo A. Ruiz Robredo, Juan Antonio Michell Martín, Ángel María Burón Romero
En este trabajo se presenta un sistema de ayuda a la detección y diagnosis de fallos a nivel transistor en circuitos digitales MOS utilizando un método de compresión basado en firmas espectrales. Las tareas a realizar son la edición gráfica del circuito, generación de lista de fallos y eliminación de fallos equivalentes ("fault collapsing"), simulación de fallos, análisis espectral de la respuesta del circuito y la verificación de los circuitos bajo test a partir de los datos proporcionados por un Sistema de Análisis Lógico (LAS)
