Sensing DNA Damage Through ATRIP Recognition of RPA-ssDNA Complexes

• Autores: Lee Zou, Stephen J. Elledge
• Localización: Science, ISSN 0036-8075, Vol. 300, Nº 5625, 2003, págs. 1542-1548
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)