Análisis de la testabilidad de una biblioteca de celdas CMOS

• Autores: M. Rullán, Joan Oliver Malagelada, Carles Ferrer
• Localización: VII Congreso de Diseño de Circuitos Integrados: 3, 4 y 5 de noviembre de 1992, Toledo, España : actas, 1992, págs. 525-526
• Idioma: español
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• Resumen

  • Se realiza un análisis de la testabilidad de una biblioteca de celdas CMOS comprobando que se reduce la probabilidad de aparición de defectos no detectables con un modelo de fallos stuck-at.