Resumen de Generación optimizada de vectores aleatorios ponderados para el autotest de circuitos VLSI
Miguel A. Miranda, Andrés Santos, Octavio Nieto-Taladriz, Carlos Alberto López Barrio
La mayoría de aproximaciones para la generación de conjuntos de pesos para el autotest ponderado de circuitos VLSI, hacen uso de distribuciones múltiples, para conseguir niveles significativos de reducción en longitud de test. Sin embargo, dichas metodologías necesitan grandes memorias para guardar los pesos de cada distribución. El esquema de generación de pesos propuesto en este trabajo incrementa la eficiencia en área generando una única distribución altamente optimizada y con similares prestaciones en reducción de longitud de test que aproximaciones previas.
