Software defect prediction using stacked denoising autoencoders and two-stage ensemble learning

• Haonan Tong ^[1] ; Bin Liu ^[1] ; Shihai Wang ^[1]
  1. [1] Beihang University

     Beihang University

     China

     
• Localización: Information and software technology, ISSN 0950-5849, Nº 96, 2018, págs. 94-111
• Idioma: inglés
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