Diseño Estadístico de Cartas de Control para Datos autocorrelacionados

• Rita Patricia Peñabaena ^[1] ; Óscar Oviedo-Trespalacios ^[1] ; Juan Guillermo Vásquez Cabeza ^[1] ; Laura Milena Fernández Cantillo ^[1]
  1. [1] Universidad del Norte

     Universidad del Norte

     Colombia

     
• Localización: Ingeniería y desarrollo: revista de la División de Ingeniería de la Universidad del Norte, ISSN 0122-3461, Vol. 31, Nº. 2, 2013 (Ejemplar dedicado a: Julio-Diciembre), págs. 291-315
• Idioma: español
• Títulos paralelos:
  • Statistical design of control charts For autocorrelated data design Of control charts
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• Resumen
  • español

    Este documento revisa la literatura relacionada con el diseño estadístico de cartas de control para datos autocorrelacionados y presenta los enfoques realizados por diversos autores en los últimos 20 años, según 3 categorías. La primera de ellas se refiere a las cartas de control basadas en residuales, la segunda corresponde a las modificaciones de las cartas de control y modelos que utilizan observaciones originales en busca de disminuir la complejidad de aplicación que tienen las cartas de residuales, y una última categoría reseña brevemente algunos métodos de minería de datos aplicados al control estadístico de procesos correlacionados. Además, se identifican futuras líneas de trabajo como apoyo a los investigadores interesados en continuar con esta línea del conocimiento. 

  • English

    This paper reviews the literature on the statistical design of control charts for autocorrelated data and presents approaches proposed by several authors over the last 20 years, according to three categories. The first one relates to residuals-based control charts, the second corresponds to modified control charts and models based on original observations that aim at reducing the complexity of residuals-based control charts. The last category briefly reviews data mining techniques applied to correlated statistical processes. In addition, future research areas are identified to support researchers interested in this line of knowledge.