OPA entra en las bases de datos INSPEC y DOAJ

• Autores: Ignacio Moreno Soriano, David Mas Candela
• Localización: Óptica pura y aplicada, ISSN-e 2171-8814, Vol. 42, Nº. 2 (JUN), 2009, págs. 1001-1003
• Idioma: español
• Títulos paralelos:
  • OPA enters ISPEC and DOAJ databases
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