Caracterización óptica de películas delgadas de Ge40Se60 amorfo a partir de medidas de transmisión.

• Autores: Juan Manuel Gonzalez Leal, E. Márquez, I. Cartes Vélez, Carlos López Cartes, E. López Cartes, Manuel Jesus Romero Florez, Rafael Jiménez Garay
• Localización: Óptica pura y aplicada, ISSN-e 2171-8814, Vol. 29, Nº. 1, 1996, págs. 41-51
• Idioma: español
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• Resumen

  • El presente trabajo recoge el estudio de las constantes ópticas de dos películas de Ge40 Se40 preparadas por evaporación térmica, en el rango espectral comprendido entre 300 y 2.000 nm, haciendo uso de las franjas del espectro de transmisión del sistema película-sustrato. La determinación del índice de refracción, del espesor de la película y del coeficiente de absorción se hace siguiendo el método de Swanepoel. La dispersión del índice de refracción se explica según el modelo del oscilador simple de Wemple-DiDomenico. El borde de absorción se estudia según el modelo propuesto por Tauc, a partir del cual se obtiene el valor del gap óptico.