Resumen de Análisis espectral de heterojunturas SIS en base a silicio monocristalino, obtenidos por el método de crecimiento Spray
S. Aguilera, S. Zamora, M. Olcay, A. Fornes, T. Molina
se analiza espectralmente heterojunturas SIS de Silicio Monocristalino a través de la curva de eficiencia cuántica expresada en porcentaje y de la respuesta o sensibilidad espectral dada en Ampere/Watt.
