Metrological implications of recent interferometric wavelength measurements for singly ionized silicon in the vacuum ultraviolet (152nm and 180nm)

• Autores: J. Reader
• Localización: Metrologia: International journal of scientific metrology, ISSN 0026-1394, Vol. 39, Nº 5, 2002, págs. 391-394
• Idioma: francés
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