Medidas topográficas en superficies atómicamente planas en condiciones ambiente mediante un microscopio de efecto túnel, un enfoque didáctico

Lilliana Delgado Jiménez; Sofía Chacón Vargas; Carlos Sabater Piqueres; Giovanni Sáenz-Arce

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Medidas topográficas en superficies atómicamente planas en condiciones ambiente mediante un microscopio de efecto túnel, un enfoque didáctico

Delgado-Jiménez, Lilliana ^[2] ; Chacón-Vargas, Sofía ^[2] ; Sabater-Piqueres, Carlos ^[1] ; Sáenz-Arce, Giovanni ^[2]
1. [1] Leiden University
  
  Leiden University
  
  Países Bajos
2. [2] Universidad Nacional
Localización: Uniciencia, ISSN-e 2215-3470, Vol. 33, Nº. 1 (January-june), 2019, págs. 30-42
Idioma: español
Títulos paralelos:
- Topographical measurements on atomically flat surfaces at room conditions through scanning tunneling microscope, a didactic insight
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Resumen
- español
  Uno de los grandes avances en la nanotecnología fue el desarrollo del microscopio de efecto túnel, herramienta que ha permitido poder manipular átomos, moléculas, estudiar el transporte electrónico en un solo átomo e incluso la obtención de imágenes con precisión atómica en superficies eléctricamente conductoras. En este artículo describimos el microscopio de efecto túnel, su funcionamiento, una metodología de calibración y cómo medir topografía de superficies planas con una resolución atómica en condiciones ambiente. Todo ello desde un punto de vista didáctico para los nuevos usuarios o investigadores no familiarizados con la técnica. Dependiendo del tipo de medida y calibración, se usaron dos tipos de muestras conductoras, el oro orientado en la dirección cristalográfica (111) y el grafito pirolítico altamente orientado (HOPG).
- English
  One of the great advances in nanotechnology has been the development of the scanning tunneling microscope, a tool that permits the manipulation of atoms and molecules, the study of electron transport in a single atom, and the generation of images with atomic precision in electrically conductive surfaces. In this paper we describe the tunneling microscope, its operation, a calibration methodology, and how to make topographic measurements on flat surfaces with atomic resolution at room conditions. This is done from a didactic point of view, intended to assist new users or researchers unfamiliar with the technique. Depending on the type of measurement and calibration, we used two conductive samples, gold (111) oriented along the crystallographic direction, and highly oriented pyrolytic graphite (HOPG).