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Mono-and Multilayer Formation by Diazonium Reduction on Carbon Surfaces Monitored with Atomic Force Microscopy "Scratching"
Autores:
Stacy H. DuVall, Franklin Anariba, Richard L. McCreery
Localización:
Analytical chemistry
,
ISSN
0003-2700,
Nº. 15, 2003
,
págs.
3837-3844
Idioma:
inglés
Texto completo no disponible
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