Resumen de Técnica de topografía de rayos X Berg-Barrett. Características y aplicaciones
Fernando Guiberteau Cabanillas, Francisco Luis Cumbrera Hernández, S. Pérez Villar, Arturo Domínguez Rodríguez
- español
Entre los métodos topográficos de difracción de rayos X, la técnica Berg-Barrett resulta ser, pese a su simplicidad experimental, una herramienta fundamental para caracterizar la distribución de determinados defectos cristalográficos y, en todo caso, se presenta como una técnica complementaria a la microscopía electrónica de transmisión (MET).
En el presente trabajo, tras exponer una somera revisión de las características generales de un experimento de topografía de rayos X, se analizan algunas de sus aplicaciones más fundamentales (estudio de la subestructura de deformación y análisis de subjuntas de grano)
- English
The Berg-Barret X-ray diffraction topography is, in spite of its experimental simplicity, a fundamental tool to characterize some crystallographic defects in materials and, in any case, it is a complementary technique to the transmission electron microscopy (TEM).
The general features of this experimental method, as well as some fundamental applications (deformation substructure and subgrain boundary characterization) are analized.
