La perfilometría óptica como técnica de caracterización topográfica no destructiva y sin contacto

• Autores: E. Afonso, A. Martínez Gómez, P. Tiemblo, Nuria García
• Localización: Revista de plásticos modernos: Ciencia y tecnología de polímeros, ISSN 0034-8708, Vol. 120, Nº. 758, 2020
• Idioma: español
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• Resumen
  • español

    Una técnica de caracterización engloba el conjunto de procedimientos y recursos de los que se sirve la ciencia para el estudio de propiedades físicas, químicas y estructurales de forma objetiva, racional, sistemática y fiable. El avance incontenible de la ciencia demanda técnicas cada vez más avanzadas para la obtención de un conocimiento rápido y preciso de la realidad que nos rodea. En este trabajo, se presenta la perfilometría óptica como técnica de caracterización topográfica no destructiva y sin contacto, alternativa o complementaria a otras técnicas como la Microscopía Electrónica de Barrido (SEM) o la Microscopía de Fuerza Atómica (AFM). Además, se ilustra con ejemplos la utilidad de esta técnica en el desarrollo de nuevos materiales de naturaleza polimérica

  • English

    A characterization technique is the entire set of procedures and resources that science uses to study physical, chemical and structural properties in an objective, rational, systematic and reliable way. The unstoppable advance of science demands advanced techniques to obtain fast and accurate knowledge of the world around us. In this work, optical profilometry is presented as a non-destructive and non-contact technique as an alternative or complementary to other surface characterization techniques such as Scanning Electron Microscopy (SEM) or Atomic Force Microscopy (AFM). Furthermore, some examples of the utility of this technique in the development of new polymeric materials are illustrated