Transistor leakage fault diagnosis with IDDQ and logic information

• Autores: Wen Xiaoqing, Hideo Tamamoto, Kewal K. Saluja
• Localización: IEICE transactions on information and systems, ISSN 0916-8532, Vol. 81, Nº. 4, 1998, págs. 372-381
• Idioma: inglés
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