Long-Lived Charge-Separated State Leading to DNA Damage through Hole Transfer

• Autores: Mamoru Fujitsuka, Tadao Takada, Kiyohiko Kawai, Xichen Cai, Takayocshi Nagai, Akira Sugimoto, Tetsuro Majima
• Localización: Journal of the American Chemical Society: JACS, ISSN 0002-7863, Vol. 125, Nº. 52, 2003, págs. 16198-16199
• Idioma: inglés
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