Testing of stuck-open faults in generalised Reed-Muller and EXOR sum-of-products CMOS circuits

• Autores: B. B. Bhattacharya, D. K. Das, H. Rahaman
• Localización: IEE Proceedings: Computers and digital techniques, ISSN 1350-2387, Vol. 151, Nº 1, 2004, págs. 83-91
• Idioma: inglés
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