In situ ESR Observation of Interface Dangling Bond Formation Processes During Ultrathin SiO~2 Growth On Si(111)

• Autores: W. Futako, N. Mizuochi, S. Yamasaki
• Localización: Physical review letters, ISSN 0031-9007, Vol. 92, Nº. 10, 2004, pág. 105505
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)