Resumen de Breve reseña histórica de la microscopía electrónica en México y el mundo
- español
La contribución del microscopio electrónico a las nanociencias ha sido excepcional por ser el equipo que permite estudiar y analizar materiales nanométricos. En este trabajo se presenta una breve reseña histórica sobre el descubrimiento y evolución del microscopio electrónico de transmisión (TEM, por sus siglas en inglés) y el electrónico de barrido (SEM, por sus siglas en inglés), así como la instalación de estos microscopios electrónicos en México. El escrito se presenta de tal manera que el texto y las ilustraciones se complementen.
- English
The contribution of the electron microscope to nanosciences has been exceptional since it is the type of equipment that allows the study and analysis of nanometric materials. A brief historical review of the discovery and evolution of the transmission electron microscope (TEM) and scanning electron microscope (SEM) and the installation in Mexico of these electron microscopes is presented. The writing is in such a way that the text and illustrations complement each other.
