Los resultados de microscopia electrónica de transmisión de alta resolución pueden ser cuantitativamente interpretados si se realizan los ajustes necesarios de la óptica-electrónica del instrumento para la adquisición de las imágenes de resolución atómica. En el marco de este trabajo se describe cualitativamente los principios de la formación de imágenes en términos de la difracción de electrones y óptica electrónica. Al final del proceso se resume a la función de transferencia de contraste (FTC) y desenfoque de la imagen del objeto. La manipulación cuidadosa del desenfoque permite controlar la FTC para conseguir contraste de fase más fuerte de los espaciados interplanares de la red cristalina de la partícula bajo estudio. El contraste que se puede lograr es brillante u oscuro en el lado del desenfoque negativo antes del valor de desenfoque de Scherzer. Contrastes oscuros de clusters de WOx sobre contraste brillantes de la red m-ZrO2 pudo ser evidenciado a través de la manipulación controlada y precisa del desenfoque.
High resolution transmission electron microscopy results can be quantitatively interpreted if an optimum adjustment is performed in the optical-electronic of the instrument during the atomic resolution images acquisition. This work qualitatively describe the principles of imaging formation by using the theory of electron diffraction and electronic-optics. At the end the process it is summarized to the contrast transfer function (CTF) and defocus. The controlled and precise manipulation of the defocus allows the CTF to be controlled to achieve stronger phase contrast of the d-spacings of the crystalline lattice of the particle under study. The contrast that can be achieved is bright or dark at values more negative of the Scherzer defocus. Dark contrasts of WOx clusters on crystalline lattice of bright contrast corresponding to the m-ZrO2 nanoparticle was evidenced through of a controlled and precise manipulation of the defocus.
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