Nanoestructuras y su caracterización por medio de microscopía electrónica de transmisión; ciencia y arte

• Mendoza Ramirez, Miriam Carolina ^[1] ; Avalos Borja, Miguel ^[1]
  1. [1] Instituto Potosino de Investigacion Cientifica y Tecnologica
• Localización: Mundo nano: Revista interdisciplinaria en nanociencias y nanotecnología, ISSN 2007-5979, ISSN-e 2448-5691, Vol. 13, Nº. 25, 2020 (Ejemplar dedicado a: La dimensión nano en la microscopía electrónica / Margarita Rivera y Jesús Arenas, Editores invitados), págs. 61-78
• Idioma: español
• Títulos paralelos:
  • Nanostructures and their characterization by transmission electron microscopy; science and art
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• Resumen
  • español

    En el presente trabajo se describen de forma didáctica los alcances de la Microscopia Electrónica de Transmisión (TEM) para el estudio de nanosistemas. Para ilustrar el uso de las técnicas TEM, se utilizaron nanopartículas de Au y películas de Si adelgazadas con iones.Se describen técnicas de estudio convencional en TEM, como campo claro (BF), camp obscuro (DF), HAADF, SAED y EELS; además se mencionan las ventajas que ofrece el empleo de técnicas menos convencionales como CBED, LACBED y PED. También se brindan algunas sugerencias prácticas que permitirán describir y diferenciar de forma sencilla el contraste observado en las distintas técnicas disponibles en el TEM con el objetivo de ofrecer una visión, llamativa, clara y didáctica de los alcances actuales de la microscopia electrónica en México.

  • English

    The description of nanometric systems is still being a challenging topic, for this reason, the Transmission Electron Microscopy (TEM) scope is described in a didactic way on several nanosystems (Au nanoparticles and thin Si films), for illustrating the use of the most remarkable TEM techniques. Throughout this work, conventional TEM techniques such as Bright Field (BF), Dark Field (DF), High Angle Annular Dark Feld (HAADF), Selected Area Electron Diffraction (SAED) and Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS) are described, emphasizing the differences with less conventional techniques such as Convergent Beam Electron Diffraction (CBED), Large Angle Convergent Beam Electron Diffraction (LACBED) and Precession Electron Diffraction (PED). Also some practical suggestions are given for describing in a simple way the typical contrast found using different TEM techniques, offering a striking, clear and didactic vision of the current scopes of TEM in Mexico.