Perfiles de comportamiento numérico de los métodos estocásticos simulated annealing y very fast simulated annealing en cálculos termodinámicos

• A Bonilla-Petriciolet ^[1] ; J.C. Tapia-Picazo ^[1] ; C Soto-Becerra ^[1] ; J.G Zapiain-Salinas ^[1]
  1. [1] Instituto Tecnológico de Aguascalientes, Departamento de Ingeniería Química
• Localización: Ingeniería, investigación y tecnología, ISSN 1405-7743, ISSN-e 2594-0732, Vol. 12, Nº. 1, 2011
• Idioma: español
• Títulos paralelos:
  • Performance Profiles of Simulated Annealing and Very fast Simulated Annealing in Thermodynamic Calculations
• Enlaces
  • Texto completo
• Resumen
  • español

    En este trabajo se reporta la aplicación del concepto de perfiles de comportamiento en la comparación del desempeño numérico de los métodos Simulated Annealing y Very Fast Simulated Annealing en diversos cálculos termodinámicos asociados a la modelación de procesos en ingeniería química. Específicamente, la robustez y eficiencia de estos métodos estocásticos han sido comparadas empleando problemas de estabilidad de fases y equilibrio de fases en sistemas no reactivos, predicción de azeótropos homogéneos y en el ajuste de parámetros en modelos termodinámicos. Los resultados obtenidos indican que el método Simulated Annealing es más robusto para resolver dichos problemas, aunque menos eficiente que el Very Fast Simulated Annealing.

  • English

    In this study, we report the application of performance profiles to compare the numerical behavior of the Simulated Annealing and Very Fast Simulated Annealing methods in thermodynamic calculations for process modeling. Specifically, the reliability and efficiency of these stochastic optimization methods have been compared using global optimization problems related to phase stability and equilibrium calculations in non-reactive systems, the prediction of homogeneous azeotropes and the parameter estimation in thermodynamic models. Our results indicate that the Simulated Annealing is more robust to solve these global optimization problems; however, this method is less efficient than the Very Fast Simulated Annealing.