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Estimadores de mínima phi-divergencia en modelos loglineales con modelos de muestreo complejo
:
aplicación para el modelo de Althman y Cohen
Juana María Alonso Revenga
[1]
;
Nirian Martín Apaolaza
[2]
[1]
Universidad Complutense de Madrid
Universidad Complutense de Madrid
Madrid,
España
[2]
Universidad Carlos III de Madrid
Universidad Carlos III de Madrid
Madrid,
España
Localización:
XXXIV Congreso Nacional de Estadística e Investigación Operativa, VIII Jornadas de Estadística Pública
:
SEIO 2013. Universitat Jaume I, Castellón, septiembre 2013. Libro de actas
/
coord.
por
Jorge Mateu Mahiques
, 2013,
ISBN
978-84-8021-957-0,
pág.
64
Idioma:
español
Texto completo no disponible
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