A Monte Carlo method for the auto-evaluation of the uncertainties in the analog-to-digital conversion-based measurements

• Autores: C. Spataro, S. Nuccio
• Localización: Compel: International journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, ISSN 0332-1649, Vol. 23, Nº 1, 2004, págs. 148-158
• Idioma: inglés
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