The Attenuation and Slow-Wave Characteristics of an Inverted Embedded (IEM) Metal-Insulator Semiconductor (MIS) Microstrip Line

• Autores: X. T. Dong, W. Y. Yin
• Localización: Microwave and optical technology letters, ISSN 0895-2477, Vol. 41, Nº. 5, 2004, págs. 366-369
• Idioma: inglés
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