Effects of body biasing on the low frequency noise of MOSFETs from a 130 nm CMOS technology

• Autores: M. Marin, M. J. Deen, M. de Murcia
• Localización: IEE Proceedings: Circuits, devices and systems, ISSN 1350-2409, Vol. 151, Nº 2, 2004, págs. 95-101
• Idioma: inglés
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