3D Models from Contours: Further Identification of Unexposed Areas

• Autores: J.Y. Zheng, F. Kishino
• Localización: 11th IAPR : International Conference on Pattern Recognition: Proceedings : The Hague, The Netherlands, August 30 - September 3, 1992 / coord. por International Association for Pattern Recognition (IAPR), Vol. 1, 1992 (Conference A: Computer Vision and Applications), ISBN 081862910X, págs. 349-353
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)