An Estimator of Edge Length and Surface Area in Digitized 2D and 3D Images

• Autores: Piet W. Verbeek, Lucas J. van Vliet
• Localización: 11th IAPR : International Conference on Pattern Recognition: Proceedings : The Hague, The Netherlands, August 30 - September 3, 1992 / coord. por International Association for Pattern Recognition (IAPR), Vol. 3, 1992 (Conference C: Image, Speech, and Signal Analysis), ISBN 0818629207, págs. 1-5
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)