Exact computation of maximally dominating faults and its application to n-detection tests for full-scan circuits

• Autores: I. Polian, I. Pomeranz, S. M. Reddy
• Localización: IEE Proceedings: Computers and digital techniques, ISSN 1350-2387, Vol. 151, Nº 3, 2004, págs. 235-244
• Idioma: inglés
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