An efficient large-signal modeling method using load-line analysis and its application to non-linear characterization of FET

• Autores: Yukio Ikeda, Kazutomi Mori, Masatoshi Nakayama
• Localización: IEICE transactions on electronics, ISSN 0916-8524, Vol. 84, Nº. 7, 2001, págs. 875-880
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)