A Focused-Beam Methodology for Measuring Microwave Backscatter

• Autores: J. G. Maloney, E. J. Hopkins, J. W. Schultz
• Localización: Microwave and optical technology letters, ISSN 0895-2477, Vol. 42, Nº. 3, 2004, págs. 201-205
• Idioma: inglés
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