Analysis of Negative-Resistance Characteristics in Active Capacitance Circuit

• Autores: S.-W. Yun, J.-R. Lee, Y. H. Chun, J.-K. Rhee
• Localización: Microwave and optical technology letters, ISSN 0895-2477, Vol. 42, Nº. 3, 2004, págs. 240-243
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)