Resumen de Estudio de los métodos analíticos para la extracción de parámetros eléctricos de módulos fotovoltaicos de capas delgadas: Colaboración con el XXIII Simposio Peruano de Energía Solar

Renzo Alberto Perich Ibañez, Miguel Angel Sevillano Bendezú, Jesús Montes Romero, Luis Ángel Conde Mendoza, José Rubén Angulo Abanto, Juan de la Casa Higueras, Jan Amaru Palomino Tofflinguer

• español

  Para conocer la eficiencia real de un panel y poder predecir su potencia y producción energética es necesario estudiar su comportamiento y caracterizarlo a las condiciones reales del lugar en el que está instalado. El modelo de un solo diodo para celdas fotovoltaicas (FV) relaciona la corriente y el voltaje del módulo FV mediante cinco parámetros eléctricos que nos dan información fundamental acerca de los procesos físicos que tienen lugar en las celdas FV y del estado del módulo. Actualmente, existen diversos métodos analíticos, numéricos y heurísticos para extraer los parámetros del modelo, cada uno con ventajas y desventajas que dependen del tipo de módulo y de las condiciones ambientales. Se realizó un estudio de métodos de extracción analíticos que se usan actualmente para módulos FV de silicio cristalino y se aplicaron a tecnologías FV de capas delgadas. En este trabajo se presentan los resultados de la extracción de parámetros a través de comparación entre la curva corriente-voltaje (IV) medida y la modelada, además de cálculos de Normalized Root Mean Square Error (NRMSE) con el fin de comparar y evaluar ambos métodos analíticos.

• English

  In order to find a module’s real efficiency and predict its power and energy production it is necessary to study its behaviour and characterize it in the conditions in which it is installed. The single diode model for photovoltaic (PV) cells relates a cell’s current to its voltage through five electric parameters which give us fundamental information about a module and the physical processes inside its cells. Currently, there are many analytical, numerical and heuristic methods used to extract the model’s parameters, each one with advantages and disadvantages that depend on the technology of the module and climate conditions. Current analytical methods used to extract parameters from silicon modules were applied to thin film PV modules in order to study their validity. This work presents the results of the parameter extraction by comparing the measured current-voltage (IV) curve with the modelled curve, as well as through Normalized Root Mean Square Error (NRMSE) calculations with the objective of comparing and evaluating the selected analytical methods.