Mediciones de rompimiento electrostático en separaciones micrométricas
- Autores: Juan Sebastián Rodríguez, Sebastián Bonilla, Alba Ávila
- Localización: Revista de Ingeniería, ISSN 0121-4993, Nº. 29, 2009, págs. 7-15
- Idioma: español
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Resumen
La continua miniaturización de dispositivos electrónicos y electro-mecánicos ha permitido el estudio de efectos no visibles a macroescalas, como es el caso del comportamiento de electrodos separados a microescala. Se presenta aquí el comportamiento de electrodos de aluminio a presión atmosférica para un rango de separaciones de 1 mm a 22 mm. Convencionalmente, el comportamiento de electrodos se describe a partir de la curva de Paschen. Los resultados demuestran que, a separaciones menores de 4 mm, el voltaje de rompimiento en los electrodos decae drásticamente y no presenta un mínimo como lo predice la curva de Paschen. Esta modificación establece condiciones críticas de operación en dispositivos basados en electrodos con separaciones a microescalas.
