A comparative study of microstructure of RuO₂ nanorods via Raman scattering and field emission scanning electron microscopy

• Autores: H.P. Chen, C.C. Chen, Y.S. Huang, D.S. Tsai, C.T. Chia, R.S. Chen, K.K. Tiong
• Localización: Solid state communications, ISSN 0038-1098, Vol. 131, Nº. 6, 2004, págs. 349-353
• Idioma: inglés
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