Surface roughness effects on the magnetization reversal of polycrystalline Fe/Ag thin films

• Autores: S. Vandezande, K. Temst, C. Van Haesendonck, J. Swerts
• Localización: Solid state communications, ISSN 0038-1098, Vol. 131, Nº. 6, 2004, págs. 359-363
• Idioma: inglés
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