AFM-lnduced Amine Deprotection: Triggering Localized Bond Cleavage by Application of Tip/Substrate Voltage Bias for the Surface Self-Assembly of Nanosized Dendritic Objects

• Autores: Scott A. Backer, Jean M. J. Frechet, Itai Suez, Zachary M. Fresco
• Localización: Journal of the American Chemical Society: JACS, ISSN 0002-7863, Vol. 126, Nº. 27, 2004, págs. 8374-8375
• Idioma: inglés
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