Local one-dimensional approximation for fast simulation of Z-scan measurements with an arbitrary beam

• Autores: W.-P. Zang, J.-G. Tian
• Localización: Applied optics: A publication of the Optical Society of America, ISSN 0003-6935, Nº. 22, 2004, págs. 4408-4414
• Idioma: inglés
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