Experimental method based on wavelength-modulation spectroscopy for the characterization of semiconductor lasers under direct modulation

• Autores: S. Schilt, L. Thevenaz
• Localización: Applied optics: A publication of the Optical Society of America, ISSN 0003-6935, Nº. 22, 2004, págs. 4446-4453
• Idioma: inglés
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