Temperature dependent Raman scattering in polycrystalline Bi<sub>4</sub>Ti<sub>3</sub>O<sub>12</sub> thin films
- Autores: Y.L. Du, G. Chen, M.S. Zhang
- Localización: Solid state communications, ISSN 0038-1098, Vol. 131, Nº. 5, 2004, págs. 313-317
- Idioma: inglés
- Texto completo no disponible (Saber más ...)
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